定制高頻超聲波探頭-High-Frequency Transducers
定制高頻超聲波探頭-High-Frequency Transducers
定制用于超聲波顯微鏡成像系統(tǒng)的點(diǎn)聚焦探頭
增宜檢測(cè)-高頻超聲波探頭出廠測(cè)試報(bào)告
定制用于超聲波顯微鏡成像系統(tǒng)的100MHz點(diǎn)聚焦水浸探頭
我們能夠定做高達(dá)125MHz的超聲波探頭,這些超聲波探頭可以用于C-SAM超聲波掃描顯微鏡成像系統(tǒng)以及其他需要高精密成像的超聲波系統(tǒng)。除了頻率可以定制外,探頭的接口(SAM/BNC/LEMO/Q9/Q6/C9/C5/UHF/L5等),線長(zhǎng)(幾十毫米-幾十米),線纜屏蔽層類型(單屏蔽/雙屏蔽),出線方向(直角/平直/或其它角度),外殼類型(水浸/接觸式),晶片形狀(圓形/方形),晶片尺寸(2-50mm),聚焦類型(點(diǎn)聚焦/線聚焦/非聚焦),聚焦長(zhǎng)度(探頭自然焦點(diǎn)以內(nèi)),用于發(fā)射和或用于接收等都可以按照您的要求進(jìn)行定制。交貨周期短至4-6周。如有需求歡迎與我們聯(lián)系。
優(yōu)勢(shì)
? 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了極佳的時(shí)間分辨率。
? 短波長(zhǎng)可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。
? 直徑極小的聲束也可以聚焦。
? 頻率范圍為20 MHz到125 MHz。
應(yīng)用
? 高分辨率缺陷探測(cè),如:微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。
? 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
? 可測(cè)量薄如0.010毫米( 0.0004英寸)材料的厚度*。
? 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè)。
? 可對(duì)材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。
超聲波成像效果-左側(cè)低頻探頭vs右側(cè)高頻探頭